公司新闻

支柱绝缘子及瓷套超声波探伤、电厂超声波探伤

 超声波检验工作必须遵守《国家电网公司电力安全工作规程(变电站和发电厂电气部分)》有关规定,当现场工作环境具备检验条件时,检验人员应停止工作,待环境条件符合要求后再行工作

000011.1 数字式A型脉冲反射式超声波探伤仪器的要求

000011.1.1 仪器的性能指标应符合JB/T 10061的规定。

000011.1.2 仪器的性能测试方法应符合JB/T 9214的规定,测试周期为1年。

000011.1.3 仪器的工作频率范围至少为1~6 MHz。

000011.1.4 仪器的实时实采样频率不小于100 MHz。

000011.1.5 仪器可记录波形应≥500幅。

000011.1.6 仪器显示刷新率应≥60HZ。

000011.1.7 仪器可测声速范围:400~20000m/s。

000011.1.8 仪器必须配有标准的通信接口,可通过界面程序与计算机进行数据和波型交换,也可直接与打印机相连。

000011.1.9 仪器所配对比试块应符合本导则附录B所列技术条件要求。

000011.2 数字式A型脉冲反射式超声波探伤仪所配用探头的要求

000011.2.1 探头应按JB/T 10062的规定进行测试,测试周期为1年。

000011.2.2 探头对准对比试块上被测棱边,当反射波幅*大时,探头中心线与被测棱边的夹角应在90º±2º的范围内。

000011.2.3 探头主波束在垂直方向不应有明显的双峰或多峰。

000011.2.4 探头的中心频率允许偏差为±0.5MHz

000011.2.5 纵波直探头*大穿透能力: 400mm

000011.2.6 纵波斜探头缺陷*大检出能力:可检出被测瓷支柱绝缘子及瓷套内部深度≤250mm内的Φ1mm孔。

000011.2.7 爬波探头缺陷*大检出能力:距瓷支柱绝缘子及瓷套裂纹40mm时,能检出深1mm的裂纹。

000011.2.8 探头分类及适用范围: 

探头种类

探头晶片尺寸(mm ×mm)

探头弧面对应直径(mm)

适用工件外径  (mm)

频率(MHz

入射角

适用范围与探头跨距(mm)

纵波直探头

Φ12

平面

>Φ250

2.5P

0°

声速测定

纵波直探头

Φ10

平面

≤Φ250

5P

0°

声速测定

纵波斜探头

8×10

Φ120

≤Φ100

5P

≤30

纵波斜探头

8×10

Φ140

Φ120

5P

≤30

纵波斜探头

8×10

Φ160

Φ140

5P

≤30

纵波斜探头

8×10

Φ180

Φ160

5P

≤30

纵波斜探头

8×10

Φ200

Φ180

5P

≤30

纵波斜探头

8×10

Φ220

Φ200

5P

≤30

纵波斜探头

8×10

Φ240

Φ220

5P

≤30

纵波斜探头

8×10

Φ180

≤Φ160

5P

>30

纵波斜探头

8×10

Φ240

≤Φ220

5P

>30

纵波斜探头

8×10

平面

>Φ240

5P

≤30

纵波斜探头

8×10

平面

>Φ240

5P

>30

纵波斜探头

8×10

平面

>Φ240

5P

10°

瓷套壁厚>60

爬波探头

8 ×10×2

Φ120

≤Φ100

2.5P

85°

>15

爬波探头

8 ×10×2

Φ140

Φ120

2.5P

85°

>15

爬波探头

6 ×10×2

Φ140

Φ120

2.5P

85°

≤15 mm狭窄部位

爬波探头

8 ×10×2

Φ160

Φ140

2.5P

85°

>15

爬波探头

8 ×10×2

Φ180

Φ160

2.5P

85°

>15

爬波探头

6 ×10×2

Φ180

Φ160

2.5P

85°

≤15 mm狭窄部位

爬波探头

8 ×10×2

Φ200

Φ180

2.5P

85°

>15

爬波探头

8 ×10×2

Φ220

Φ200

2.5P

85°

>15

爬波探头

8 ×10×2

Φ240

Φ220

2.5P

85°

>15

爬波探头

8 ×10×2

平面

>Φ240

2.5P

85°

>15

爬波探头

6×10×2

平面

>Φ240

2.5P

85°

≤15 mm狭窄部位

000011.3 仪器与探头组合的系统性能

000011.3.1 在达到探伤工件*大检测声程处,其有效探伤灵敏度余量不小于10db。

000011.3.2 组合分辨率:纵波斜探头的远场分辨率≥30db,爬波分辨力≥6db。

000011.3.3 组合频率与公称频率误差≤±10%。

000011.3.4 纵波直探头的远场分辨力大于或等于30db,小角度纵波斜探头和爬波探头的远场分辨力≥6db。

000011.4 耦合剂的选择

耦合剂应具有良好的透声性能和浸润能力,且不损伤工件表面。可选择甘油、浓机油或化学浆糊等作为耦合剂。

000011 检验方法

000011.1 声速测定

000011.1.1 对不同批次、不同尺寸的瓷支柱绝缘子,需按不少于1%的比例抽检作声速测定,以确定其强度范围。

000011.1.2 瓷支柱绝缘子的声速测定应采用纵波直探头,采用卡尺量出被测瓷支柱绝缘子的直径并输入仪器,调整仪器找到两次回波,并将回波限在闸门范围内,测试出被测瓷件声速值。一般高强瓷的声速>6500m/s。

000011.1.3 瓷套的声速测定暂不作要求。

000011.2 内部缺陷检测

000011.2.1 内部缺陷(指瓷件内部存在的点状、多个或从状、裂纹等缺陷)应采用纵波斜入射方法进行检测。

000011.2.2 选择探头:在探头移动范围允许的情况下,尽量选择入射角较大的探头,以提高表面缺陷检出能力。一般可在直径变化20mm的范围内确定一种弧度规格探头,直径大的探头可用于探测直径小一档的瓷件。瓷支柱绝缘子及瓷套直径大于Φ240mm时可以采用平面探头。

000011.2.3 调整显示比例:以JYZ-BX试块上与瓷支柱绝缘子直径及瓷套壁厚相近处的Φ1mm横通孔作为参照,调整波形显示比例(一般仪器A通道预置显示比例适用于直径200mm的瓷件。比如瓷支柱绝缘子直径为140 mm,屏幕上底波的横向显示距离应为距始波70%屏幕宽度)。

000011.2.4 调整灵敏度:以JYZ-BX试块上深40mm,Φ1mm横通孔为参照,采用按自动增益键或手动调整增益的方式,使该横通孔的*强反射波高为屏幕纵向显示刻度的80%(即80%波高)。

000011.2.5 手动调整增益值时,如瓷件为高强瓷可按增益值速算表进行设定,中强瓷则须在下表的基础上再增益4 db。

瓷件厚度或直径(㎜)

30

40

60

80

100

120

140

160

180

200

220

240

Φ1孔灵敏度(dB)

58

60

62

64

66

68

70

72

74

76

78

80

000011.3 表面缺陷检验

000011.3.1 表面缺陷(指瓷件近表面的点状、裂纹等缺陷,一般深度≤9mm)应采用爬波方法进行检测。

000011.3.2 选择探头:在探头移动范围允许的情况下,尽量选择较大晶片尺寸的探头,以提高表面缺陷检出能力。一般可在直径变化20mm范围内确定一种弧度规格探头,直径大的探头可用于探测直径小一档的瓷件。瓷支柱绝缘子及瓷套直径大于Φ240mm时可以采用平面探头。

000011.3.3 根据仪器内置的距离波幅曲线对试件进行探伤。

000011.3.4 仪器内置的距离波幅曲线应每半年一次按厂家提供的制作方法重新校正。

000012 检验结果评定

000012.1 缺陷波的识别

000012.1.1 纵波探伤

a)如仪器显示仅有孤立底波,无附着杂波,波幅清晰,应判定无缺陷。

b)如瓷支柱绝缘子及瓷套内部如存在晶粒粗大时,探头移动时会出现此起彼伏的草状反射波(一般波高<30%屏幕高度),稍微移动探头反射波立即下降或消失,而缺陷波一般比较稳定,此时应判定为晶粒反射波。

c)如瓷支柱瓷绝缘子及瓷套内部存在晶界偏析层、层状析出物、粒状析出物,气孔、裂纹等缺陷,底波前会出现点状或丛状反射波,底波也可能因此降低,应判定为缺陷波。

d)如移动探头,缺陷波连续存在,应采用半波高度法确定缺陷的指示长度。 

000012.1.2 爬波探伤

a)如瓷支柱瓷绝缘子及瓷套被检部位的表面存在气孔、烧结形成的凹坑或裂纹时,会出现点状或丛状反射波,此时应与仪器预置的距离波幅曲线进行比较,波高超出曲线的应为缺陷波。

b)爬波探伤时探伤距离超过30~40mm的后段易出现草状反射波,一般应避免在此区域观察缺陷。

000012.2 纵波斜入射探伤结果的评定

000012.2.1 点状缺陷

a)缺陷波与相近声程Φ1mm横通孔进行当量比较,缺陷波如≥Φ1mm横通孔当量,判定为不合格。

b)缺陷波<Φ1mm横通孔当量,但内部缺陷波呈现为多个(≥2点)或丛状(>3点)反射波,判定为不合格。

000012.2.2 裂纹缺陷

缺陷指示长度>5mm时,判定为不合格。

000012.3 爬波探伤结果的评定

超出距离波幅曲线的反射波,应认定为缺陷,判定为不合格。

000013 记录报告

000013.1 瓷支柱绝缘子、瓷套的超声波检验按本导则附录C的格式出具检验报告,并逐只记录检验结果。

000013.2 对于不足以判定为不合格的缺陷应采用本导则附录D的格式做好记录。缺陷记录时,应详细记录缺陷在周向和轴向的位置以及缺陷的波高。缺陷周向定位时,瓷件有长久性出厂编号的,应以出厂编号首字母的左边缘为零点,顺时针360度记录;无明显长久标记的,应在法兰外轮廓边缘标注钢印零点,顺时针360度记录。缺陷轴向定位时,以法兰面为零点。

 

京公网安备 11010802025952号